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国创中心成功完成全新端侧AI推理芯片的深度性能测试
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近日，国家新能源汽车技术创新中心成功完成对原粒（北京）半导体技术有限公司全新端侧AI推理芯片的深度性能测试。标志着国创中心在端侧应用评估体系建设与下一代人工智能及AI基础设施布局上取得关键突破，加速AI及机器人芯片的场景赋能。
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国创中心成功完成全新端侧AI推理芯片的深度性能测试，原始来源为财联社，发布时间为2026-08-18T09:09:12。近日，国家新能源汽车技术创新中心成功完成对原粒（北京）半导体技术有限公司全新端侧AI推理芯片的深度性能测试。标志着国创中心在端侧应用评估体系建设与下一代人工智能及AI基础设施布局上取得关键突破，加速AI及机器人芯片的场景赋能。相关主题：算力芯片。来源：主线罗盘，链接：https://www.ai-gupiao.com/news/91935。仅供研究学习参考，不构成投资建议。
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