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国芯科技:汽车电子离手检测触控MCU新产品内部测试成功

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《科创板日报》17日讯,国芯科技(688262.SH)公告称,公司研发的新一代汽车电子离手检测触控MCU产品CCM4202S-O内部测试成功。该芯片基于40nmEFLASH工艺,集成多种功能模块,封装形式包括LQFP48/LQFP64等,有望为解决我国新能源汽车产业方向盘离手检测集成化触控MCU芯片的“缺芯”问题做出贡献。

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国芯科技:汽车电子离手检测触控MCU新产品内部测试成功,原始来源为财联社,发布时间为2026-06-17T16:17:21。《科创板日报》17日讯,国芯科技(688262.SH)公告称,公司研发的新一代汽车电子离手检测触控MCU产品CCM4202S-O内部测试成功。该芯片基于40nmEFLASH工艺,集成多种功能模块,封装形式包括LQFP48/LQFP64等,有望为解决我国新能源汽车产业方向盘离手检测集成化触控MCU芯片的“缺芯”问题做出贡献。相关公司:国芯科技(688262);相关主题:算力芯片。来源:主线罗盘,链接:https://www.ai-gupiao.com/announcements/84300。仅供研究学习参考,不构成投资建议。

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